Středoškoláci se na FIT seznamovali s biometrií

Seznámit se s biometrií mohli minulý týden na FIT studenti středních škol v rámci projektu JCMM T-exkurze. Ten umožňuje středoškolákům "ochutnat" vysokoškolské studium, navštívit univerzitní laboratoře a zjistit tak více třeba o oboru, který budou chtít jednou studovat. Na Fakultě informačních technologií se v přednášce Martina Drahanského seznámili s biometrickýmy systémy a jejich bezpečností, v laboratoři si pak mohli rozpoznávání otisků prstů či dlaně, snímání sítnice nebo falšování biometrických charakteristik přímo vyzkoušet.