Tento projekt je spolufinancován se státní podporou Technologické gentury ČR v rámci Programu průmyslového výzkumu a experimentálního vývoje TREND
www.tacr.cz
Výzkum užitečný pro společnost.

Detail projektu

Nová generace integrace mikroskopie atomárních sil a elektronové mikroskopie

Období řešení: 1. 4. 2020 - 31. 3. 2023

Typ projektu: grant

Kód: TACR FW01010183

Agentura: Technologická agentura České republiky

Program: Program průmyslového výzkumu a experimentálního vývoje TREND

Název anglicky
Next Generation of Integrated Atomic Force and Scanning Electron Microscopy
Typ
grant
Klíčová slova

Hardwarových upgrade, softwarový vývoj, vývoj aplikací, transfer technologií

Abstrakt

Hlavním cílem projektu je posílení konkurenceschopnosti a komerčního potenciálu produktu LiteScope společnosti NenoVision na vnitřním i zahraničních trzích pomocí další generace zařízení a jeho příslušenství. Inovace se zaměří na tři oblasti, které tvoří dílčí cíle projektu: a) Hardwarových upgrade zařízení - vývoj nových HW modulů umožňujících: rotaci vzorku, chlazení a vyhřívání vzorků a zakládání vzorků a sond přes tzv. Load-Lock elektronových mikroskopů. b) softwarový vývoj metod a procedur pro zpracování a analýzy obrazu pořízených technikami víceúrovňové korelativní analýzy c) vývoj aplikací a příkladů použití použití korelativních technik kombinující AFM / SEM využívajících nově vyvinuté hardwarové i softwarové moduly d) efektivní spolupráce partnerů a transfer technologií.

Řešitelé
Herout Adam, prof. Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT) , hlavní řešitel
Bartl Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)
Čiháková Lucie, Ing. (VCIT FIT VUT)
Kocur Viktor, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)
Nguyen Son Hai, Ing. (FIT VUT)
Nguyen Son Hai, Ing. (UPGM FIT VUT)
Špaňhel Jakub, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)
Vaško Marek, Ing. (UPGM FIT VUT)
Zachariáš Michal, Ing., Ph.D. (UPGM FIT VUT)
Publikace

2023

Nahoru