Nová generace integrace mikroskopie atomárních sil a elektronové mikroskopie

Období řešení: 1. 4. 2020 – 31. 3. 2023

Typ projektu: grant

Kód: FW01010183

Agentura: Technologická agentura ČR

Program: Program průmyslového výzkumu a experimentálního vývoje TREND

Název anglicky

Next Generation of Integrated Atomic Force and Scanning Electron Microscopy

Typ

grant

Klíčová slova

Hardwarových upgrade, softwarový vývoj, vývoj aplikací, transfer technologií

Abstrakt

Hlavním cílem projektu je posílení konkurenceschopnosti a komerčního potenciálu
produktu LiteScope společnosti NenoVision na vnitřním i zahraničních trzích
pomocí další generace zařízení a jeho příslušenství. Inovace se zaměří na tři
oblasti, které tvoří dílčí cíle projektu: a) Hardwarových upgrade zařízení -
vývoj nových HW modulů umožňujících: rotaci vzorku, chlazení a vyhřívání vzorků
a zakládání vzorků a sond přes tzv. Load-Lock elektronových mikroskopů. b)
softwarový vývoj metod a procedur pro zpracování a analýzy obrazu pořízených
technikami víceúrovňové korelativní analýzy c) vývoj aplikací a příkladů použití
použití korelativních technik kombinující AFM / SEM využívajících nově vyvinuté
hardwarové i softwarové moduly d) efektivní spolupráce partnerů a transfer
technologií.

Řešitelé

Herout Adam, prof. Ing., Ph.D. (UPGM) – hlavní řešitel
Bartl Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPGM)
Čiháková Lucie, Ing. (VCIT)
Kocur Viktor, Ing., Ph.D.
Lipovský Oto, Ing. (ÚFI)
Nguyen Son Hai, Ing.
Špaňhel Jakub, Ing., Ph.D. (UPGM)
Vaško Marek, Ing. (UPGM)
Zachariáš Michal, Ing., Ph.D. (UPGM)

Publikace

2023

KOCUR, V.; HEGROVÁ, V.; PATOČKA, M.; NEUMAN, J.; HEROUT, A. Correction of AFM data artifacts using a convolutional neural network trained with synthetically generated data. Ultramicroscopy, 2023, vol. 246, no. 1, p. 113666-113666. ISSN: 0304-3991. Detail