Detail publikace
Special Session: How Approximate Computing impacts Verification, Test and Reliability
SEKANINA Lukáš, VAŠÍČEK Zdeněk, BOSIO Alberto, TRAIOLA Marcello, RECH Paolo, OLIVEIRA Daniel, FERNANDES Fernando a DI Carlo Stefano. Special Session: How Approximate Computing impacts Verification, Test and Reliability. 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium. San Francisco: IEEE Computer Society, 2018. ISBN 978-1-5386-3774-6.
Název česky
Speciální sekce: Jak aproximativní počítání ovlivňuje verifikaci, testování a spolehlivost
Typ
abstrakt
Jazyk
angličtina
Autoři
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Vašíček Zdeněk, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Bosio Alberto (LIRMM)
Traiola Marcello (LIRMM)
Rech Paolo (UFRGS)
Oliveira Daniel (UFRGS)
Fernandes Fernando (UFRGS)
Di Carlo Stefano (POLITO)
Vašíček Zdeněk, doc. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Bosio Alberto (LIRMM)
Traiola Marcello (LIRMM)
Rech Paolo (UFRGS)
Oliveira Daniel (UFRGS)
Fernandes Fernando (UFRGS)
Di Carlo Stefano (POLITO)
Abstrakt
Aproximativní počítání je nový přístup k realizaci výpočetních systémů, který se snaží o vylepšení energetické účinnosti, doby výpočtu a složitosti počítačů za cenu nenulové chybovosti. Cílem této speciální sekce je diskutovat jak aproximativní počítání může ovlivnit procesy verifikace, testování a celkovou spolehlivost číslicových obvodů. Jsou prezentovány dva pohledy: (i) jak aproximativní počítání ovlivňuje postup návrhu a výroby integrovaných obvodů a (ii) jak disciplíny verifikace, testování a spolehlivosti mohou být využity v rámci aproximativního přístupu.
Rok
2018
Strany
1
Kniha
2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium
Konference
IEEE VLSI Test Symposium 2018, San Francisco, US
ISBN
978-1-5386-3774-6
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
San Francisco, US
DOI
UT WoS
000435280400009
EID Scopus
Soubory