Detail publikace

Automatic Design of Reliable Systems Based on the Multiple-choice Knapsack Problem

LOJDA Jakub, PODIVÍNSKÝ Jakub, ČEKAN Ondřej, PÁNEK Richard, KRČMA Martin a KOTÁSEK Zdeněk. Automatic Design of Reliable Systems Based on the Multiple-choice Knapsack Problem. In: Proceedings - 2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020. Novi Sad: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020, s. 1-4. ISBN 978-1-7281-9938-2.
Název česky
Automatický návrh spolehlivých systémů založený na Multiple-choice Knapsack Problem
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Čekan Ondřej, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Pánek Richard, Ing. (UPSY FIT VUT)
Krčma Martin, Ing. (UPSY FIT VUT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Klíčová slova

Návrh systémů odolných proti poruchám, automatizace návrhu elektroniky, multiple-choice knapsack problem, odhad odolnosti proti poruchám, verifikace, vysokoúrovňová syntéza

Abstrakt

Tento paper vyhodnocuje praktické využití Multiple-choice Knapsack Problem (MCKP) solveru k automatické volbě vhodného typu ošetření pro každou z komponent systému za účelem zvýšení celkové odolnosti proti poruchám tohoto systému. Využití MCKP je umístěno do kontextu s naším nástrojem pro automatický návrh systémů odolných proti poruchám, jehož cílem je kompletní automatizace procesu transformace systému neodolného na systém odolný. Přitom se zaměřujeme na obecnost celého procesu. Náš výzkum prezentujeme na hradlových polích Field Programmable Gate Array (FPGA), pro která jsme vyvinuli konkrétní komponenty nástroje pro podporu automatického návrhu systémů odolných proti poruchám. Paper rovněž prezentuje případovou studii, kde MCKP solver dosáhl na zvoleném systému o 18 % méně tzv. kritických bitů bitstreamu FPGA ve srovnání s předchozím přístupem, zatímco navíc byla snížena velikost samotného obvodu. Výsledky naznačují, že rozdělením systému na menší části a zabezpečením těchto částí s využitím MCKP solveru je možno dosáhnout podstatně lepších výsledků odolnosti proti poruchám.

Rok
2020
Strany
1-4
Sborník
Proceedings - 2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020
Konference
2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Novi Sad, RS
ISBN
978-1-7281-9938-2
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Novi Sad, RS
DOI
10.1109/DDECS50862.2020.9095576
UT WoS
000587761500006
EID Scopus
2-s2.0-85085861470
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB12100,
   author = "Jakub Lojda and Jakub Podiv\'{i}nsk\'{y} and Ond\v{r}ej \v{C}ekan and Richard P\'{a}nek and Martin Kr\v{c}ma and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Automatic Design of Reliable Systems Based on the Multiple-choice Knapsack Problem",
   pages = "1--4",
   booktitle = "Proceedings - 2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020",
   year = 2020,
   location = "Novi Sad, RS",
   publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers",
   ISBN = "978-1-7281-9938-2",
   doi = "10.1109/DDECS50862.2020.9095576",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/12100"
}
Nahoru