Detail výsledku

Data Dependent I Path and their Utilisation in DFT

RŮŽIČKA, R. Data Dependent I Path and their Utilisation in DFT. Sborník prací studentů a doktorandů FEI VUT. Brno: Akademické nakladatelství CERM, 2000. p. 228-230. ISBN: 80-7204-155-X.
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA, FEKT (FEKT)
Abstrakt

This paper describes an algorithm for utilisation of data paths in the digital circuit, in what functional units occur. These paths, called i paths, are used to transport test patterns and responses to them during the test of the circuit. Some functional units have an identity mode conditioned by the presence of concrete data (e.g. zero for an adder) on their inputs. When these dependencies are taken into account, the cost of modifications for testability of the circuit can be significantly reduced.

Klíčová slova

i path, design-for-testability, i mode, data dependent i mode

Rok
2000
Strany
228–230
Sborník
Sborník prací studentů a doktorandů FEI VUT
ISBN
80-7204-155-X
Vydavatel
Akademické nakladatelství CERM
Místo
Brno
BibTeX 
@inproceedings{BUT191625,
  author="Richard {Růžička}",
  title="Data Dependent I Path and their Utilisation in DFT",
  booktitle="Sborník prací studentů a doktorandů FEI VUT",
  year="2000",
  pages="228--230",
  publisher="Akademické nakladatelství CERM",
  address="Brno",
  isbn="80-7204-155-X"
}
Projekty
Metodika a prostředky pro analýzu testovatelnosti digitálních obvodů, GAČR, Standardní projekty, GA102/98/1463, zahájení: 1998-01-01, ukončení: 2006-03-31, ukončen
Pracoviště
Fakulta informačních technologií (FIT)
Nahoru