Detail publikace
Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory
Neuronové sítě, Kombinační logické obvody, Generování testovacích vzorů
V příspěvku je popsáno neobvyklé použití Hopfieldovy neuronové sítě pro generování testovacích vektorů pro testování kombinačních logických obvodů. Nejprve jsou navrženy neuronové podsítě generující signály odpovídající funkcím standardních hradel a poté je ukázáno jejich spojování do sítě representující složitý obvod. Pro generování testovacích vektorů jsou vytvořeny dvě identické sítě, do libovolné z nich je pak zavedena chyba a výstupy obou sítí jsou spojeny dohromady pomcí obvodu nonekvivalence. Výsledná síť se snaží přejít do stavu s minimální energií, která odpovídá správným signálům na všech prvcích obvodu a tím nalezne kombinaci vstupních signálů vedoucí k odhalení zavedené chyby. Metoda byla ověřena na obvodech obsahujících řádově desítky hradel, dosažené výsledky jsou v příspěvku prezentovány.
@INPROCEEDINGS{FITPUB6601,
author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Franti\v{s}ek Zbo\v{r}il",
title = "Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory",
pages = "75--80",
booktitle = "Proceedings of the ECI'98",
year = 1998,
location = "Herlany, SK",
publisher = "Slovak Academy of Science",
ISBN = "80-88786-94-0",
language = "english",
url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/6601"
}