Detail publikace

Optimising Solution of the Scan Problem at RT Level Based on a Genetic Algorithm

STRNADEL Josef a KOTÁSEK Zdeněk. Optimising Solution of the Scan Problem at RT Level Based on a Genetic Algorithm. In: Proceedings of 5th IEEE Design and Diagnostics of Electronics Circuits and Systems Workshop. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2002, s. 44-51. ISBN 80-214-2094-4.
Název česky
Optimalizace problému scan na úrovni RT založená na genetickém algoritmu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Abstrakt

Článek se zabývá problémem výběru registrů do scan řetězců na úrovni RT. Výsledkem navržené metody je nejen informace o tom, které registry je třeba zařadit do scan řetězců, ale také v jakém pořadí mají být registry ve scan řetězcích zapojeny.

Rok
2002
Strany
44-51
Sborník
Proceedings of 5th IEEE Design and Diagnostics of Electronics Circuits and Systems Workshop
Konference
IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems 2002, Brno, CZ
ISBN
80-214-2094-4
Vydavatel
Vysoké učení technické v Brně
Místo
Brno, CZ
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB6897,
   author = "Josef Strnadel and Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Optimising Solution of the Scan Problem at RT Level Based on a Genetic Algorithm",
   pages = "44--51",
   booktitle = "Proceedings of 5th IEEE Design and Diagnostics of Electronics Circuits and Systems Workshop",
   year = 2002,
   location = "Brno, CZ",
   publisher = "Brno University of Technology",
   ISBN = "80-214-2094-4",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/6897"
}
Soubory
Nahoru