Detail publikace

Normalized Testability Measures Based on RTL Digital Circuit Graph Model Analysis

STRNADEL Josef. Normalized Testability Measures Based on RTL Digital Circuit Graph Model Analysis. In: Proceedings of The fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002. Edition 55. Košice: Technická univerzita v Košiciach, 2002, s. 200-205. ISBN 80-7099-879-2.
Název česky
Normalizované míry testovatelnosti založené na analýze grafového modelu RTL číslicového obvodu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Abstrakt

Článek prezentuje míry pro ohodnocení testovatelnosti založené na analýze grafového modelu RTL číslicového obvodu. V článku je představen grafový model RTL číslicového obvodu, vztahy pro ohodnocení testovatelnosti a dosažené experimentální výsledky.

Rok
2002
Strany
200-205
Sborník
Proceedings of The fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002
Řada
Edition 55
Konference
The Fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002, Herľany, SK
ISBN
80-7099-879-2
Vydavatel
Technická univerzita v Košiciach
Místo
Košice, SK
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB6995,
   author = "Josef Strnadel",
   title = "Normalized Testability Measures Based on RTL Digital Circuit Graph Model Analysis",
   pages = "200--205",
   booktitle = "Proceedings of The fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002",
   series = "Edition 55",
   year = 2002,
   location = "Ko\v{s}ice, SK",
   publisher = "The University of Technology Ko\v{s}ice",
   ISBN = "80-7099-879-2",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/6995"
}
Soubory
Nahoru