Detail publikace

Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits

KOTÁSEK Zdeněk, PEČENKA Tomáš, SEKANINA Lukáš a STRNADEL Josef. Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits. In: Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004. Montpellier: IEEE Computer Society, 2004, s. 107-108. ISBN 000000000.
Název česky
Evoluční návrh testovacích obvodů na úrovni RT
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Pečenka Tomáš, Ing. (UPSY FIT VUT)
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
URL
Klíčová slova

testovací obvody na úrovni RT, analýza testovatelnosti na úrovni RT, evoluční techniky

Abstrakt

V příspěvku je popsána možnost využití evolučních postupů pro vytváření struktur testovacích obvodů se širokou škálou parametrů testovatelnosti. Pro určení hodnoty fitness funkce je použita metoda založená na analytickém vyhodnocení paremetrů testovatelnosti. Řešení, která není možno syntetizovat návrhovým systémem jsou vyloučena. Pomocí této metodiky byly vygenerovány obvody s požadovanými a předem definovanými parametry řiditelnosti/pozorovatelnosti. Výstupem metodiky je popis struktury obdvodu ve VHDL. V článku jsou vyhodnoceny výsledky metodiky a jsou také naznačeny možné směry dalšího vývoje výzkumných prací.

Rok
2004
Strany
107-108
Sborník
Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004
Konference
European Test Symposium, Ajaccio, Korsika, FR
ISBN
000000000
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Montpellier, FR
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB7482,
   author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Tom\'{a}\v{s} Pe\v{c}enka and Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Josef Strnadel",
   title = "Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits",
   pages = "107--108",
   booktitle = "Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004",
   year = 2004,
   location = "Montpellier, FR",
   publisher = "IEEE Computer Society",
   ISBN = "000000000",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7482"
}
Nahoru