Detail publikace

Partial Scan Methodologoies

KOTÁSEK Zdeněk. Partial Scan Methodologoies. In: Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project. Bratislava: Slovenská akademie věd, 2004, s. 77.
Název česky
Přehled metodik typu Partial Scan
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Kotásek Zdeněk, Doc. Ing., CSc. (UIVT-VVS FEI VUT)
Abstrakt

Metodiky Partial scan jsou viděny jako alternativa k metodám aplikace testu. V příspěvku je uveden přehled těchto metodik.

Rok
2004
Strany
77
Sborník
Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project
Konference
Additional Hardware for IC Testability Improvement, Stará Lesná, SK
Vydavatel
Slovenská akademie věd
Místo
Bratislava, SK
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB7623,
   author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek",
   title = "Partial Scan Methodologoies",
   pages = 77,
   booktitle = "Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project",
   year = 2004,
   location = "Bratislava, SK",
   publisher = "Slovak Academy of Science",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7623"
}
Nahoru