Detail publikace

Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique

KOTÁSEK Zdeněk, STRNADEL Josef a PEČENKA Tomáš. Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique. In: Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop. Sopron: University of West Hungary, 2005, s. 186-189. ISBN 963-9364-48-7.
Název česky
Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. (UPSY FIT VUT)
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Pečenka Tomáš, Ing. (UPSY FIT VUT)
URL
Abstrakt

Příspěvek se zabývá problémem výběru vhodné množiny registrů do řetězce scan. Proces výběru prezentovaný v příspěvku je založen na technikách identifikace testovatelných jader, pokrytí zpětnovazebních smyček a výběru vhodných registrů pro dosažení vysokého paralelismu testu.

Rok
2005
Strany
186-189
Sborník
Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop
Konference
The 8th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems , Sopron, HU
ISBN
963-9364-48-7
Vydavatel
University of West Hungary
Místo
Sopron, HU
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB7747,
   author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Josef Strnadel and Tom\'{a}\v{s} Pe\v{c}enka",
   title = "Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique",
   pages = "186--189",
   booktitle = "Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop",
   year = 2005,
   location = "Sopron, HU",
   publisher = "University of West Hungary",
   ISBN = "963-9364-48-7",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7747"
}
Nahoru