Detail publikace

Power-Constrained, Sessionless SOC Test Scheduling Based on Exploration of I-Schedule State-Space

STRNADEL Josef. Power-Constrained, Sessionless SOC Test Scheduling Based on Exploration of I-Schedule State-Space. In: Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Prague: Vydavatelství ČVUT, 2006, s. 161-162. ISBN 1-4244-0184-4.
Název česky
Plánování testu založené na prohledávání stavového prostoru I-schedule pro systémy na čipu vyžadující nízký příkon
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Abstrakt

Přístup prezentovaný ve článku je založen na kódování plánu testu pomocí tzv. STEP bodů. Na základě informace o vzájemném sdílení prostředků testu jednotlivými testy (uložené ve formě TACG grafu) metoda generuje plán testu, v němž jsou přítomny všechny testy z dané množiny, nedochází ke konfliktům při aplikaci testu, jsou splněny požadavky na omezení příkonu a TAM a současně, celkový čas pro aplikaci testu se blíží minimální možné hodnotě při daných omezeních. Metoda neplánuje testy "po skupinách" ale samostatně, čímž lze dosáhnout kratších dob celkového testu.

Rok
2006
Strany
161-162
Sborník
Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
Konference
IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop, Praha, CZ
ISBN
1-4244-0184-4
Vydavatel
Vydavatelství ČVUT
Místo
Prague, CZ
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB8029,
   author = "Josef Strnadel",
   title = "Power-Constrained, Sessionless SOC Test Scheduling Based on Exploration of I-Schedule State-Space",
   pages = "161--162",
   booktitle = "Proceedings of the 2006 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
   year = 2006,
   location = "Prague, CZ",
   publisher = "Czech Technical University Publishing House",
   ISBN = "1-4244-0184-4",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/8029"
}
Nahoru