Detail publikace

On Distribution of Testability Values in Scan-Layout State-Space

STRNADEL Josef. On Distribution of Testability Values in Scan-Layout State-Space. In: Proceedings of the 7th International Scientific Conference on Electronic Computers and Informatics. Košice: Technická univerzita v Košiciach, 2006, s. 308-313. ISBN 80-8073-598-0.
Název česky
Rozložení hodnot testovatelnosti ve stavovém prostoru konfigurací scan řetězů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Abstrakt

Článek se zabývá rozložením hodnot testovatelnosti ve stavovém prostoru konfigurací scan řetězců konkrétního číslicového obvodu. Cílem článku je experimentálně ukázat, že hypotéza tvrdící, že čím více registrů je zahrnuto do čím většího počtu scan řetězů, tím lépe bude našimi měrami testovatelnosti ohodnocena testovatelnost obvodu s daným rozmístěním registrů ve scan řetězech.

Rok
2006
Strany
308-313
Sborník
Proceedings of the 7th International Scientific Conference on Electronic Computers and Informatics
Konference
7TH International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2006, Herľany, SK
ISBN
80-8073-598-0
Vydavatel
Technická univerzita v Košiciach
Místo
Košice, SK
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB8181,
   author = "Josef Strnadel",
   title = "On Distribution of Testability Values in Scan-Layout State-Space",
   pages = "308--313",
   booktitle = "Proceedings of the 7th International Scientific Conference on Electronic Computers and Informatics",
   year = 2006,
   location = "Ko\v{s}ice, SK",
   publisher = "The University of Technology Ko\v{s}ice",
   ISBN = "80-8073-598-0",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/8181"
}
Soubory
Nahoru