Result Details
Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu
Příspěvek se zabývá optimalizací plánování testu číslicových obvodů a to zejména optimalizací z hlediska příkonu obvodu během aplikace testu. V diagnostickém režimu činnosti obvodu lze totiž vysledovat zvýšený příkon oproti běžnému funkčnímu režimu činnosti obvodu. Použitím vhodných metod plánování testu je však možné příkon v diagnostickém režimu podstatně snížit. V praxi lze popisované postupy s výhodou uplatnit např. u číslicových obvodů napájených z baterií nebo u číslicových obvodů s vysokým stupněm integrace a s omezenými možnostmi chlazení
plán testu, testování, příkon, optimalizace plánu testu, číslicový obvod
test schedule, testing, power consumption, test schedule optimization, digital circuit
@inproceedings{BUT22276,
author="Jaroslav {Škarvada}",
title="Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu",
booktitle="Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia",
year="2006",
pages="143--148",
publisher="Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied",
address="Bratislava",
isbn="80-9692-0227"
}