Detail publikace

Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits

RŮŽIČKA Richard, SEKANINA Lukáš a PROKOP Roman. Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits. In: Proc. of the 14th IEEE Int. On-Line Testing Symposium. Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2008, s. 31-36. ISBN 978-0-7695-3264-6.
Název česky
Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY FIT VUT)
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Prokop Roman, Ing. (UMEL FEKT VUT)
URL
Abstrakt

Polymorfní hradla mohou být chápána jako nová rekonfigurovatelná technologie umožňující integrovat logickou funkci se schopností snímání. Článek představuje nové polymorfní hradlo NAND/NOR řízené úrovní napájecího napětí, výsledky měření provedené na tomto hradle a jeho použití v samočinně testovatelné sčítačce.

Rok
2008
Strany
31-36
Sborník
Proc. of the 14th IEEE Int. On-Line Testing Symposium
Konference
14th IEEE International On-line Testing Symposium 2008, Rodos Palace Hotel, GR
ISBN
978-0-7695-3264-6
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Los Alamitos, US
BibTeX 
@INPROCEEDINGS{FITPUB8652,
   author = "Richard R\r{u}\v{z}i\v{c}ka and Luk\'{a}\v{s} Sekanina and Roman Prokop",
   title = "Physical Demonstration of Polymorphic Self-checking Circuits",
   pages = "31--36",
   booktitle = "Proc. of the 14th IEEE Int. On-Line Testing Symposium",
   year = 2008,
   location = "Los Alamitos, US",
   publisher = "IEEE Computer Society",
   ISBN = "978-0-7695-3264-6",
   language = "english",
   url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/8652"
}
Soubory
Nahoru