Detail publikace
Retargetable Multi-level Debugging in HW/SW Codesign
KŘOUSTEK Jakub, PŘIKRYL Zdeněk, KOLÁŘ Dušan a HRUŠKA Tomáš. Retargetable Multi-level Debugging in HW/SW Codesign. In: The 23rd International Conference on Microelectronics (ICM 2011). Hammamet: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2011, s. 1-6. ISBN 978-1-4577-2209-7. Dostupné z: https://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6177413
Název česky
Rekonfigurovatelný víceúrovňový ladicí nástroj pro HW/SW codesign
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Křoustek Jakub, Ing. (UIFS FIT VUT)
Přikryl Zdeněk, Ing., Ph.D. (UIFS FIT VUT)
Kolář Dušan, doc. Dr. Ing. (UIFS FIT VUT)
Hruška Tomáš, prof. Ing., CSc. (UIFS FIT VUT)
Přikryl Zdeněk, Ing., Ph.D. (UIFS FIT VUT)
Kolář Dušan, doc. Dr. Ing. (UIFS FIT VUT)
Hruška Tomáš, prof. Ing., CSc. (UIFS FIT VUT)
URL
Klíčová slova
ladění, simulace, DWARF, JTAG
Abstrakt
Článek pojednává o návrhu rekonfigurovatelného víceúrovňového ladicího nástroje, který je využitelný pro souběžný návrh HW/SW. Navržené řešení pracuje na třech úrovních přesnosti - úrovni cyklů, instrukcí a příkazů vyššího programovacího jazyka (HLL). Článek obsahuje experimentální výsledky implementace tohoto návrhu.
Rok
2011
Strany
1-6
Sborník
The 23rd International Conference on Microelectronics (ICM 2011)
Konference
The 23rd International Conference on Microelectronics, Hammamet, TN
ISBN
978-1-4577-2209-7
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Hammamet, TN
DOI
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB9558, author = "Jakub K\v{r}oustek and Zden\v{e}k P\v{r}ikryl and Du\v{s}an Kol\'{a}\v{r} and Tom\'{a}\v{s} Hru\v{s}ka", title = "Retargetable Multi-level Debugging in HW/SW Codesign", pages = "1--6", booktitle = "The 23rd International Conference on Microelectronics (ICM 2011)", year = 2011, location = "Hammamet, TN", publisher = "Institute of Electrical and Electronics Engineers", ISBN = "978-1-4577-2209-7", doi = "10.1109/ICM.2011.6177413", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/9558" }