Detail publikace

Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks

PODIVÍNSKÝ, J.; LOJDA, J.; PÁNEK, R.; ČEKAN, O.; KRČMA, M.; KOTÁSEK, Z. Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks. In 2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS). San José: IEEE Circuits and Systems Society, 2020. p. 1-4. ISBN: 978-1-7281-3427-7.
Název česky
Využití platformy pro ověřování odolnosti proti poruchám pro analýzu spolehlivosti elektronických zámků
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY)
Pánek Richard, Ing., Ph.D. (UPSY)
Čekan Ondřej, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Krčma Martin, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova

Elektronický zámek, krokový motor, FPGA, odolnost proti poruchám, injekce poruch

Abstrakt

Tato publikace představuje zkoumání vlivů poruch na řídicí jednotku chytrých
elektronických zámků. Krokový motorek je často používán jako aktuátor chytrých
zámků a jeho řídicí jednotka je obvykle implementována pomocí procesoru. Cílem
této práce je prozkoumat dopad poruch, které se mohou vyskytnou v řídicím
procesoru. Je třeba poznamenat, že poruchy v takových elektronických systémech
lze vyvolat i uměle, obvykle s postranními motivy. Procesor může být
implementován v FPGA, což umožní simulaci HW poruch v procesoru. To nám umožňuje
použít dříve vyvinutou platformu pro testování odolnosti proti poruchám. Tato
platforma nám umožňuje sledovat dopad poruch na elektroniku i mechanickou část
elektromechanického systému. Součástí tohoto článku je vyhodnocení chyb
injektovaných do procesoru implementovaného na FPGA. Byly provedeny experimenty
s injekcí jednonásobných i vícenásobných poruch.

Rok
2020
Strany
1–4
Sborník
2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS)
Konference
IEEE LATIN AMERICAN SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS, Holiday Inn Hotel, Escazu, San José, CR
ISBN
978-1-7281-3427-7
Vydavatel
IEEE Circuits and Systems Society
Místo
San José
DOI
10.1109/LASCAS45839.2020.9068977
UT WoS
000926125300028
EID Scopus
2-s2.0-85084320586
BibTeX 
@inproceedings{BUT162658,
  author="Jakub {Podivínský} and Jakub {Lojda} and Richard {Pánek} and Ondřej {Čekan} and Martin {Krčma} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Evaluation Platform For Testing Fault Tolerance: Testing Reliability of Smart Electronic Locks",
  booktitle="2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS)",
  year="2020",
  pages="1--4",
  publisher="IEEE Circuits and Systems Society",
  address="San José",
  doi="10.1109/LASCAS45839.2020.9068977",
  isbn="978-1-7281-3427-7",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12080/"
}
Soubory
Nahoru