Detail publikace

24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems

SHAFIQUE, M.; STEININGER, A.; SEKANINA, L.; KRSTIĆ, M.; STOJANOVIC, G.; MRÁZEK, V. 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems. USA: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2021. ISBN: 978-1-6654-3595-6.
Název česky
24. mezinárodní sympozium o návrhu a diagnostice elektronických obvodů a systémů
Typ
konferenční sborník (ne článek)
Jazyk
anglicky
Autoři
Shafique Muhammad
Steininger Andreas, Prof. Dr.
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
KRSTIĆ, M.
STOJANOVIC, G.
Mrázek Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPSY)
Klíčová slova

electronic circuit, design, test, design method, digital circuit, analog circuit

Abstrakt

Tentosborník obsahuje recenzované články přijaté k prezentaci a publikaci na24. mezinárodním sympoziu Design and Diagnostics of Electronic Circuits andSystems (DDECS2021). Od svého vzniku v roce 1997 DDECS kontinuálně poskytujefórum pro výměnu názorů, diskuzi výzkumných výsledků a prezentaci praktickýchaplikací v oblastech návrhu, testování a diagnostiky elektronických obvodůa systémů.

Rok
2021
Strany
158
Konference
24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Vídeň, AT
ISBN
978-1-6654-3595-6
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
USA
DOI
10.1109/DDECS52668.2021.9417019
EID Scopus
2-s2.0-85105554198
BibTeX 
@proceedings{BUT171158,
  editor="SHAFIQUE, M. and STEININGER, A. and SEKANINA, L. and KRSTIĆ, M. and STOJANOVIC, G. and MRÁZEK, V.",
  title="24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems",
  year="2021",
  pages="158",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="USA",
  doi="10.1109/DDECS52668.2021.9417019",
  isbn="978-1-6654-3595-6"
}
Nahoru