Detail publikace
Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu
polymorfní elektronika, polytronika, polymorfní hradla, ATPG, design for test, snižování počtu testovacích vektorů.
Polymorfní elektronika je nový přístupk tvorbě elektronických obvodů, které jsou schopny na základě vnějšíchpodmínek (teplo, světlo, napájecí napětí atp.) měnit svoji funkci. Tato prácepojednává o novém typu aplikace polymorfní elektroniky. Polymorfní hradla jsouvkládána do klasických obvodů za účelem snížení počtu testovacích vektorůpotřebných pro dosažení stanovených parametrů testu. V jednom režimu plníobvod klasickou funkci. Ve druhém režimu může být obvod testován s menšímpočtem testovacích vektorů, než kdyby zůstal v režimu prvním, přičemžpokrytí poruch je stejné. Při testech na šesti vzorových obvodech bylo dosaženoredukce až 50%. Článek se také zabývá některými problémy, které daný konceptpřináší.
@inproceedings{BUT28838,
author="Lukáš {Stareček}",
title="Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu",
booktitle="Sborník příspěvků Česko-slovenského semináře Počítačové architektury a diagnostika pro studenty doktorandského studia",
year="2007",
pages="41--46",
publisher="Západočeská univerzita v Plzni",
address="Plzeň",
isbn="978-80-7043-605-9"
}