Detail předmětu
Principy syntézy testovatelných obvodů
Garant předmětu
Jazyk výuky
česky, anglicky
Zakončení
zkouška
Rozsah
- 39 hod. přednášky
Zajišťuje ústav
Ústav počítačových systémů (UPSY)
Literatura referenční
- M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran
- A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran
- P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran
Osnova přednášek
- Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
- Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
- Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
- Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
- Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
- Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
- Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
- Principy autonomního testování číslicových obvodů.
- Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
- Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
- Techniky CSTP, BILBO.
- Konstrukce obvodů pro on-line testování
- Metoda Boundary Scan. Testování spojů.
Zařazení předmětu ve studijních plánech