Detail předmětu
Principy syntézy testovatelných obvodů
PTD Ak. rok 2011/2012 zimní semestr
Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory).
Garant předmětu
Jazyk výuky
Zakončení
Rozsah
- 39 hod. přednášky
Zajišťuje ústav
Získané dovednosti, znalosti a kompetence z předmětu
Předmět nemá znalosti.
Cíle předmětu
Předmět nemá cíle.
Požadované prerekvizitní znalosti a dovednosti
Nejsou žádné prerekvizity.
Literatura referenční
- M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 stran
- A. L. Crouch: Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core Systems, Prentice Hall, 1999, ISBN 0-13-084827-1, 347 stran
- P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, ISBN 0-7923-9199-3, 375 stran
Osnova přednášek
- Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
- Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
- Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
- Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
- Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
- Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
- Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
- Principy autonomního testování číslicových obvodů.
- Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
- Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
- Techniky CSTP, BILBO.
- Konstrukce obvodů pro on-line testování
- Metoda Boundary Scan. Testování spojů.
Průběžná kontrola studia
Hodnocení studia je založeno na bodovacím systému. Pro úspěšné absolvování předmětu je nutno dosáhnout 50 bodů.
Kontrolovaná výuka
Výuka není kontrolována.