Detail předmětu
Diagnostika a bezpečné systémy
DIA Ak. rok 2003/2004 zimní semestr 6 kreditů
Poruchové modely obvodů TTL, CMOS, PLA, zkratů. Metody generování testů. Strukturální testy. Funkční testy. Testování sekvenčních obvodů. Generování testů na úrovni HDL. Náhodné a pseudonáhodné generování testů. Lokalizační posloupnosti. Slovníky poruch. Komprese diagnostických dat. Návrh pro snadné testování, strukturované metody. Vestavěná diagnostika. Testování pamětí. Testování procesorů a kabeláže. Zabezpečení proti poruchám. Přístrojové vybavení pro diagnostiku. Verifikační přístupy.
Garant předmětu
Jazyk výuky
Zakončení
Rozsah
Zajišťuje ústav
Získané dovednosti, znalosti a kompetence z předmětu
Základní metody generování testů návrhu pro snadné testování.
Cíle předmětu
Seznámit studenty s metodami generování testů logických obvodů, jejich minimalizace a komprese, a dále s metodikou navrhování snadno testovatelných obvodů.
Průběžná kontrola studia
Polosemestrální zkouška a projekt.
Zařazení předmětu ve studijních plánech
- Program EI-BC-3, obor VTB, 1. ročník, volitelný
- Program EI-BC-3 (anglicky), obor VTB, 1. ročník, volitelný
- Program EI-MGR-3, obor VTN, 2. ročník, volitelný
- Program EI-MGR-5, obor VTI, 2. ročník, volitelný
- Program EI-MGR-5 (anglicky), obor VTI, 2. ročník, volitelný